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J-GLOBAL ID：200903031323330105
レーザ走査型顕微鏡
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
鈴江 武彦 (外4名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001236687
Publication number (International publication number)：2003043369
Application date： Aug. 03, 2001
Publication date： Feb. 13, 2003
Summary：
【要約】【課題】良好な試料画像を表示できるレーザ走査型顕微鏡を提供すること。【解決手段】レーザ光を観察対象の試料に集束させて照射させると共に試料に対して走査させ、試料から得られた光を光電変換手段33により検出することにより走査各位置毎の光検出出力を画素データとして得て試料の画像を得るようにした顕微鏡において、サンプリング周期変更可能であって、前記走査の各位置毎に前記光電変換手段の光検出出力を、設定サンプリング周期対応にサンプリングする手段35と、このサンプリングされて得られた走査位置での光検出出力を平均化してその位置での画素データとする演算手段36と、所望の平均化数を設定するとその設定した数対応に前記サンプリング周期を変更する変更手段38とを具備する。
Claim (excerpt)：
レーザ光を観察対象の試料に集束させて照射させると共に前記レーザ光は試料に対して走査させ、試料から得られた光を光電変換手段により検出することにより前記走査の各位置毎の光検出出力を画素データとして得て前記試料の画像を得るようにしたレーザ走査型顕微鏡において、サンプリング周期変更可能であって、前記走査の各位置毎に前記光電変換手段の光検出出力を、設定サンプリング周期対応にサンプリングする手段と、このサンプリングされて得られた前記走査位置における光検出出力を平均化してその位置での画素データとする演算手段と、所望の平均化数を設定するとその設定した数対応に前記サンプリング周期を変更する変更手段と、を具備することを特長とするレーザ走査型顕微鏡。
IPC (2)：
FI (2)：
F-Term (6)：
2H052AA07
, 2H052AC15
, 2H052AC27
, 2H052AC34
, 2H052AF14
, 2H052AF25
