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J-GLOBAL ID：200903031421193019

光学式測定装置における画像処理方法

Inventor： 山岡 直次 ,  土田 学 ,  矢口 幸宏
Applicant, Patent owner： 本田技研工業株式会社
Agent (1)： 北村 欣一 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991229215
Publication number (International publication number)：1993067199
Application date： Sep. 09, 1991
Publication date： Mar. 19, 1993
Summary：

【要約】【構成】 スリット光の光軸方向に対応する画面WのX軸方向における光切断画像Sの変位量Pxを計測する。この変位量から光切断画像SのY軸方向の拡大率Kを演算する。光切断画像の部分重心位置G1〜G5を計測するために設定するウインドW1〜W5のY軸方向の位置と大きさを拡大率Kに応じて変更する。【効果】 ワークがスリット光の光軸方向に変位して光切断画像の拡大率が変化しても、この画像の所定箇所に正確にウインドを設定して、光切断画像の部分重心位置を光切断画像に対し一定の位置関係を保って計測でき、ワークの計測精度を向上できる。

Claim (excerpt)：

ワークにスリット光を照射する投光器と、ワークに照射されたスリット光が描く光切断像を撮像する撮像器とをスリット光の光軸と撮像器の光軸とが斜交するような位置関係で配置して成る光学式測定装置における画像処理方法であって、撮像器の画面上の光切断画像の所定箇所にウインドを設定して、該ウインドにおける光切断画像の重心位置を計測するものにおいて、スリット光の光軸方向に対応する画面の座標軸方向をX軸方向、これに直交する座標軸方向をY軸方向として、光切断画像の画面上でのX軸方向の変位量を計測し、この変位量から光切断画像のY軸方向の拡大率を演算して、前記ウインドの少なくともY軸方向の設定位置とY軸方向の大きさとをこの拡大率に応じて変更することを特徴とする光学式測定装置における画像処理方法。

IPC (3)：

G06F 15/62 415 ,  G01B 11/00 ,  G01B 11/24