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J-GLOBAL ID：200903031438842410

検眼装置

Inventor：
小早川 嘉

About 小早川 嘉


Applicant, Patent owner：
キヤノン株式会社

About キヤノン株式会社


Agent (1)： 日比谷 征彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994113786
Publication number (International publication number)：1995299032
Application date： Apr. 30, 1994
Publication date： Nov. 14, 1995
Summary：
【要約】【目的】 遠見、近見検査の切換えにも影響されない視標を呈示し、視野の広い両眼視による検眼測定を行う。【構成】 遠見検査においては、視標4からの光はハーフミラー2と被検者の眼幅よりも横幅の広い凹面鏡3を反射後に再びハーフミラー2に入射し、これの透過光により被検者Sは視標4を観察する。近見検査においては、ハーフミラー2を90度回転させてハーフミラー2’の位置に切換え、視標4からの光を直接ハーフミラー2’に反射させて、この反射光により被検者Sは視標4を観察する。被検者Sは視力測定マークMの方向を判別し、これによって視力を測定する。
Claim (excerpt)：
横径が被検眼の眼幅よりも大きな凹面鏡と、該凹面鏡と被検眼の間に配設された光分割部材と、該光分割部材と凹面鏡に反射され更に前記光分割部材を透過して被検者に呈示される視標とを有することを特徴とする検眼装置。
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (5)
  • 特開昭54-133793
  • 特開昭58-015128
  • 特開平4-012728
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Cited by examiner (18)
  • 特開昭54-133793
  • 特開昭54-133793
  • 特開昭58-015128
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