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J-GLOBAL ID：200903031537587898

中性子照射試験装置

Inventor： 野田 健治 ,  星屋 泰二 ,  佐藤 潔和 ,  北野 隆一 ,  岡野 長生
Applicant, Patent owner： 日本原子力研究所 ,  株式会社東芝
Agent (2)： 波多野 久 ,  関口 俊三
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004137183
Publication number (International publication number)：2005321209
Application date： May. 06, 2004
Publication date： Nov. 17, 2005
Summary：

【課題】テスト中、試験部に不測の事態が発生しても、試験部の中性子照射設定範囲の位置を変えるだけで継続してテストが続行できる中性子照射試験装置を提供する。【解決手段】本発明に係る中性子照射試験装置は、容器11に収容され、中性子を照射する供試体14を支持する手段21,22,23,24,25,26と、容器11,12,12a,12b,13を支持台8に対して進退させる手段9、27,28,29,30とを備えたものである。【選択図】 図1

Claim (excerpt)：

支持台に収容された容器内に収容し、中性子を照射する供試体を支持する手段と、上記容器を上記支持台に対して進退自在に移動させる手段とを備えたことを特徴とする中性子照射試験装置。

IPC (4)：

G21K5/08 ,  G01N23/00 ,  G21B1/00 ,  G21K5/02

FI (4)：

G21K5/08 A ,  G01N23/00 ,  G21B1/00 D ,  G21K5/02 N

F-Term (4)：

2G001AA04 ,  2G001JA07 ,  2G001KA03 ,  2G001PA14