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J-GLOBAL ID：200903031555796550

セラミックス部材の非破壊による寿命推定法及び寿命推定システム

Inventor： 沢井 裕一 ,  安富 義幸 ,  宮田 素之 ,  玉置 英樹 ,  和田 克夫
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 小川 勝男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995330669
Publication number (International publication number)：1996254530
Application date： Dec. 19, 1995
Publication date： Oct. 01, 1996
Summary：

【要約】【課題】少なくとも表面層がセラミックスからなるセラミックス部材の簡単な非破壊検査により、寿命を短時間で予測できる方法の提供。【解決手段】セラミックス部材の物理量を測定したり、色を観察することにより、該セラミックス部材の寿命を予測することを特徴とするセラミックス部材の寿命推定法。【効果】被検査物を破壊せずに物理量を測定、または色を観察することによる検査のため、短時間で容易に被検査物の寿命を推定できる。

Claim (excerpt)：

少なくとも表面層がセラミックスからなるセラミックス部材の物理量を測定し、その寿命を推定することを特徴とするセラミックス部材の非破壊による寿命推定法。

IPC (10)：

G01N 33/38 ,  F01D 5/28 ,  F02C 7/00 ,  G01N 15/00 ,  G01N 21/27 ,  G01N 21/77 ,  G01N 27/04 ,  G01N 31/00 ,  G01R 27/02 ,  G21B 1/00

FI (10)：

G01N 33/38 ,  F01D 5/28 ,  F02C 7/00 A ,  G01N 15/00 Z ,  G01N 21/27 Z ,  G01N 21/77 C ,  G01N 27/04 Z ,  G01N 31/00 S ,  G01R 27/02 R ,  G21B 1/00 R