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J-GLOBAL ID：200903031598934531

集中度測定方法及びその装置

Inventor： 坂本 丈治 ,  佐藤 俊行 ,  滝川 守国 ,  川崎 広時
Applicant, Patent owner： 株式会社 ディーエフシー
Agent (1)： 森田 寛 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992220186
Publication number (International publication number)：1994296596
Application date： Aug. 19, 1992
Publication date： Oct. 25, 1994
Summary：

【要約】【目的】 測定環境に影響されずに集中度を正しく測定できるようにする。【構成】 検出された脳波の生体信号からα波を抽出し,当該α波を基に被検者の集中度を測定する集中度測定装置において,脳波のパワースペクトルを抽出する脳波抽出処理手段1と,当該脳波抽出処理手段1で抽出された脳波のパワースペクトルを積分する脳波スペクトル積分手段2と,集中力を示すα波のスペクトルを積分するα波スペクトル積分手段3と,上記α波スペクトル積分手段3で得られた積分値と脳波スペクトル積分手段2で得られた積分値との割合を求める集中度演算手段4とを備え構成される。

Claim (excerpt)：

検出された脳波の生体信号から脳波についてのパワースペクトルを抽出すると共に,当該脳波についてのパワースペクトルの積分値と集中力を示すα波のスペクトルの積分値とを求め,上記集中力を示すα波のスペクトルの積分値と脳波についてのパワースペクトルの積分値との割合から被検者の集中度を測定するようにしたことを特徴とする集中度測定方法。

FI (2)：

A61B 5/04 322 ,  A61B 5/04 320 B

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 特開昭64-086936
  
• 特開昭59-222130