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J-GLOBAL ID：200903031603417737
物質の定量測定装置
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
小鍜治 明 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992325265
Publication number (International publication number)：1993237081
Application date： Dec. 04, 1992
Publication date： Sep. 17, 1993
Summary：
【要約】 (修正有)【目的】 測定対象となる物体に含まれる複数の物質を一つの差分計算式で簡単に、検出、定量可能な物質の定量測定法を提供することを目的とする。【構成】 物体20の各測定点にエネルギーE1、E2の放射線24を照射し、その透過強度を測定する。各測定点における透過強度により物質Cを測定するためのエネルギー差分計算を行う。測定点bbにおける計算結果を基準とし、この基準と測定点aaにおける計算結果の差をとることにより、物質B、物質Cと重なった物質Aの単位面積当たりの密度が測定できる。また、物質Bのある基準点kは負の値となり、これにより物質Bが検出でき、定量可能となる。
Claim (excerpt)：
2つのエネルギー値の放射線を照射する放射線照射手段と、前記放射線が被測定体を透過した後の放射線強度を測定する放射線測定手段と、前記2つのエネルギ-値の放射線の前記透過強度情報に対して演算を行う演算手段と、前記演算手段の演算結果を用いて判定を行う判定手段を有した、物質の同定あるいは定量を行う物質の定量測定装置であって、前記演算手段は、原子番号もしくは実効原子番号の異なる3つの物質で構成される被測定体に対して、特定の物質を消去する差分計算を用いて、少なくとも差分計算結果として負の値を得る演算手段であり、前記判定手段は、前記演算手段の演算結果と、消去した物質に対する原子番号もしくは実効原子番号との相対関係に基づき3種類の物質の同定、定量の判定を行う判定手段であることを特徴とする物質の定量測定装置。
IPC (2)：
A61B 6/00 333
, G01N 9/24
