Pat
J-GLOBAL ID：200903031629274314

電池パックおよび劣化度の算出方法

Inventor：
鈴木 功

About 鈴木 功


Applicant, Patent owner：
ソニー株式会社

About ソニー株式会社


Agent (1)： 杉浦 正知
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2006210139
Publication number (International publication number)：2008041280
Application date： Aug. 01, 2006
Publication date： Feb. 21, 2008
Summary：
【課題】充電時間を長くすることなく、電池の劣化度をより正確に算出することができるようにする。 【解決手段】電池パックは、1または2以上の電池1aと、電池1aに対する充電をON/OFFするスイッチ部4と、電池1aの開放電圧を測定する測定部3と、スイッチ部4により充電のON/OFFが10回以上繰り返された後、測定部3により測定された開放電圧に基づき、電池1aの劣化度を算出する劣化度算出部2とを備える。1または2以上の電池1aに対する充電のON/OFFを10回以上繰り返した後、電池1aの開放電圧を測定するので、電池1aの開放電圧を安定させた後に開放電圧を測定することができる。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
1または2以上の電池と、 上記電池に対する充電をON/OFFするスイッチ部と、 上記電池の開放電圧を測定する測定部と、 上記スイッチ部により充電のON/OFFが10回以上繰り返された後、上記測定部により測定された開放電圧に基づき、上記電池の劣化度を算出する劣化度算出部と を備えることを特徴とする電池パック。
IPC (3)：
H01M 10/48 ,  H01M 2/10 ,  H01M 10/42
FI (3)：
H01M10/48 P ,  H01M2/10 E ,  H01M10/42 P
F-Term (11)：
5H030AA10 ,  5H030AS14 ,  5H030FF43 ,  5H030FF44 ,  5H030FF51 ,  5H040AS12 ,  5H040AS13 ,  5H040AT01 ,  5H040AY04 ,  5H040AY08 ,  5H040DD08
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (1) Cited by examiner (4)
Show all

Return to Previous Page

TOP

BOTTOM