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J-GLOBAL ID：200903031655555968

走査サンプル放射ビームを用いて眼底を照明する装置および方法

Inventor： トーマス ヘルムース ,  ジェイ ウェイ
Applicant, Patent owner： ハンフリー インストゥルメンツ インコーポレイテッド
Agent (1)： 矢野 敏雄 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994310979
Publication number (International publication number)：1996098813
Application date： Dec. 14, 1994
Publication date： Apr. 16, 1996
Summary：

【要約】【目的】 走査サンプル放射ビームを用いて眼底を照明する装置を提供する。【構成】 前記装置は、走査サンプル放射ビームがサンプルビームに曝露されているビームスキャナーから放出する、走査サンプル放射ビームを用いて眼底を照明するものであり、ビームスキャナーの最終偏向点から放出されるサンプルビームの主光線を含む、走査サンプルビームからの放射を伝達するためのスキャナーレンズおよびビームスプリッター、および走査サンプルビームが眼により眼底に集束するように前記伝達された放射を集束するレンズからなり、スキャナーレンズがビームスキャナーに対して最終偏向点が実質的にスキャナーレンズの後焦点面に配置するように固定され、かつスキャナーレンズが可動である。

Claim (excerpt)：

走査サンプル放射ビームがサンプルビームに曝露されるビームスキャナーから放出される形式の、走査サンプル放射ビームを用いて眼底を照明する装置において、ビームスキャナーの最終偏向点から放出されるサンプルビームの主光線を含む、走査サンプルビームからの放射を伝達する手段と、走査サンプルビームが眼により眼底に集束されるように前記伝達された放射を集束する手段とからなり、前記伝達する手段がレンズ手段からなり、該レンズ手段は、最終偏向点が実質的に前記レンズ手段の後焦点面に位置するビームスキャナーを基準として固定されており、かつ前記レンズ手段が可動であることを特徴とする、走査サンプル放射ビームを用いて眼底を照明する装置。

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (4)

• 特開平1-265935
  
• 特開昭59-200628
  
• 特開平4-044737
  
• 特開昭63-005726
  

Cited by examiner (8)

• 特開平1-265935
  
• 特開昭59-200628
  
• 特開平4-044737
  
• 特開昭63-005726
  
• 特開平1-265935
  
• 特開昭59-200628
  
• 特開平4-044737
  
• 特開昭63-005726