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J-GLOBAL ID：200903031713383978

マイクロ波非破壊評価装置

Inventor： 坂 真澄 ,  巨 陽 ,  広沢 容
Applicant, Patent owner： 株式会社 東北テクノアーチ
Agent (1)： 重信 和男 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001195213
Publication number (International publication number)：2003014658
Application date： Jun. 27, 2001
Publication date： Jan. 15, 2003
Summary：

【要約】【課題】高精度の検波を可能としたマイクロ波非破壊検査装置を提供【解決手段】スイッチ216で、第1発振器212で発生したマイクロ波と、第2発振器214で発生したマイクロ波とを選択する。選択されたマイクロ波はカップラ220で、測定波とレファレンス波とに分配している。測定波は、サーキュレータ232、フレキシブルな導波路222を介して、アンテナ226から被測定物に対して放射される。被測定物からの反射波は、同じアンテナ226で受信され、サーキュレータ232,減衰器242を介して、ハイブレッド・カップラ(HB-カップラ)254に印加される。レファレンス波は、フレキシブル導波路224を介して、短絡端228で反射してフェーズ・シフタ244に入力され、マジックT246から、HB-カップラ252および256に入力する。HB-カップラからの出力は検波器で直流に検波される。

Claim (excerpt)：

マイクロ波を用いて、被検査物を非破壊で評価するマイクロ波非破壊評価装置であって、マイクロ波を発振する発振手段と、前記被検査物に向かってマイクロ波を送信し、前記被検査物側から反射された、又は、前記被検査物を透過したマイクロ波を受信する送受信手段と、送受信手段を介して受信した測定波と前記発振手段からのレファレンス波を用いて、4波を得てから検波することにより、受信した測定波の振幅および/または位相を検出する検出手段とを備えることを特徴とするマイクロ波非破壊評価装置。

IPC (2)：

G01N 22/02 ,  G01N 22/00

FI (6)：

G01N 22/02 A ,  G01N 22/00 G ,  G01N 22/00 N ,  G01N 22/00 S ,  G01N 22/00 W ,  G01N 22/00 X

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 誘電体材料製品の内部品質評価装置および評価方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平10-101962   Applicant：坂真澄, 住友ベークライト株式会社
• 特開昭62-066145