Pat
J-GLOBAL ID:200903031752900874
半導体材料の切断・加工方法
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
池条 重信 (外2名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1999161014
Publication number (International publication number):2000343525
Application date: Jun. 08, 1999
Publication date: Dec. 12, 2000
Summary:
【要約】【課題】 シリコンインゴット等の半導体材料を切断、あるいは溝入れ加工を施すワイヤーソーを用いた切断・加工方法において、切断後の残留加工歪が少なく、厚み精度にすぐれた高品質、高精度の加工物が安定的に得られる方法。【解決手段】 芯線の外周に砥粒を固着したワイヤーを用いた切断・加工に際して、スラリーに、鉱物油などの油性基剤と遊離砥粒との混合物、あるいはPEG(ポリエチレングリコール材)などの水溶性ベース剤と遊離砥粒との混合物を用いて切断加工を行うことにより、切削性向上と残留加工歪低減及び加工応力の抑制、切削熱の抑制効果が高く、また、KOHやNaOH等アルカリ溶液をかけながら切断することにより、切断により発生した加工応力(残留歪み)を除去しながら切断を進め、低歪みのウェーハを切断することが可能。
Claim (excerpt):
ワイヤーソーによる半導体材料の切断・加工方法において、芯線の外周に砥粒を固着したワイヤーを用い、該ワイヤーにて該材料の切断面へスラリーを持ち込み切断・加工する半導体材料の切断・加工方法。
IPC (2):
FI (2):
B28D 5/04 C
, B24B 27/06 H
F-Term (16):
3C058AA05
, 3C058AA07
, 3C058AC04
, 3C058CA02
, 3C058CA05
, 3C058CB02
, 3C058DA02
, 3C058DA03
, 3C058DA17
, 3C069AA01
, 3C069BA06
, 3C069BB04
, 3C069CA04
, 3C069DA06
, 3C069EA02
, 3C069EA05
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