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J-GLOBAL ID：200903031754017200

二色性分散計

Inventor： 神藤 洋爾
Applicant, Patent owner： 日本分光株式会社
Agent (1)： 松井 伸一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993124749
Publication number (International publication number)：1994317518
Application date： Apr. 30, 1993
Publication date： Nov. 15, 1994
Summary：

【要約】【目的】 光学素子の不完全さに起因する測定の誤差を軽減し、感度の向上を図ることのできる円二色性分散計を提供すること【構成】 光源1からの出射光をレンズ2で集光して平行光束にした後、偏光解消板3を介して無偏光の光を試料4に照射するようにしている。また試料を通過した光束の進路上に光弾性変調器5,検光子6,レンズ7をその順に配置し、さらにそのレンズの焦点位置に分光器8の入射スリットを配置する。そして分光器の出力側に検出器9を配置し、そこにおいて検出した光成分を信号処理装置10に送るようになっている。そして上記無偏光の光は、同一エネルギーの左回りと右回りの円偏光の合成とみなせ、試料通過中での両円偏光の吸収率の差から透過光は一方の円偏光の成分が強くなる。かかる偏光状態を試料の後段に配置した測定系で検知することにより試料の特性を調べる。

Claim (excerpt)：

略無偏光状態の光を試料に照射する光照射手段と、前記試料からの透過光あるいは反射光の偏光成分の位相遅れを制御する光変調手段と、前記光変調手段で変調された光の直線偏光成分を抽出する手段と、前記直線偏光成分を抽出する手段にて抽出された光を受光する手段と、その受光する手段で受光された光成分に基づいて、前記試料にて吸収された光成分を検出することにより前記試料の特性を計測する信号処理手段とを備えた二色性分散計。

IPC (3)：

G01N 21/19 ,  G01J 3/447 ,  G01J 4/04

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• 光弾性変調子の残留歪除去装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-113074   Applicant：日本分光株式会社