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J-GLOBAL ID：200903031828392482
皮膚表面形態特徴検出方法
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
遠山 勉 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992168629
Publication number (International publication number)：1993329133
Application date： Jun. 03, 1992
Publication date： Dec. 14, 1993
Summary：
【要約】【目的】 画像解析処理装置を用いた皮膚表面形態特徴検出方法において、該皮膚表面形態の特徴を簡便且つ客観的に定量化し得る特性値を決定する。【構成】 皮膚表面又は皮膚レプリカの表面を高精細デジタルカラーCCDカメラで全方位から観測し、各画像を画像解析処理装置に導く。画像解析処理装置では、方位間の中心線平均粗さ標準偏差と溝間隔標準偏差、特定方位及び該特定方位に対向する方位の中心線平均粗さの加算値と平均溝間隔の加算値、全方位の中心線平均粗さに対する方位間中心線平均粗さ標準偏差の比、全方位の平均溝間隔に対する方位間溝間隔偏差の比を統計演算し、各演算値を当該皮膚表面形態特徴を表す特性値として用いる。
Claim (excerpt)：
皮膚表面又は皮膚レプリカの表面に、所定入射角を保持しつつ一定間隔にて全方位から順次光を照射し、各方位における落射照明像を夫々多段階値の輝度信号に変換するとともに、これら輝度信号の段階値を統計演算して各方位毎の中心線平均粗さ、全方位の中心線平均粗さ、方位間の中心線平均粗さ標準偏差を夫々求め、該中心線平均粗さ標準偏差、特定方位の中心線平均粗さと該特定方位に対向する方位の中心線平均粗さとの加算値、全方位の中心線平均粗さに対する前記中心線平均粗さ標準偏差の割合値の少なくとも一つを当該皮膚表面の粗さを表す特性値としたことを特徴とする皮膚表面形態特徴検出方法。
IPC (2)：
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