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J-GLOBAL ID：200903031852601700

試料調整法

Inventor： 池滝 慶記 ,  藤井 正明 ,  尾松 孝茂 ,  鈴木 智雄 ,  皆方 誠 ,  山元 公寿 ,  中谷 和彦
Applicant, Patent owner： オリンパス光学工業株式会社 ,  株式会社日本ローパー ,  科学技術振興事業団
Agent (1)： 西澤 利夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000118633
Publication number (International publication number)：2001305030
Application date： Apr. 19, 2000
Publication date： Oct. 31, 2001
Summary：

【要約】【課題】 蛍光信号を短時間、且つ高感度で計測することができ、二重共鳴吸収顕微鏡の超解像性を十分に引き出して実用性をより向上させることのできる、新しい試料調整法を提供する。【解決手段】 二重共鳴吸収顕微鏡における試料を調整する方法であって、試料を量子ドットにより染色する。

Claim (excerpt)：

二重共鳴吸収顕微鏡における試料を調整する方法であって、試料を量子ドットにより染色することを特徴とする試料調整法。

IPC (4)：

G01N 1/30 ,  G01N 21/64 ,  G02B 21/00 ,  G01N 33/48

FI (5)：

G01N 1/30 ,  G01N 21/64 F ,  G01N 21/64 E ,  G02B 21/00 ,  G01N 33/48 P

F-Term (20)：

2G043BA16 ,  2G043CA03 ,  2G043CA06 ,  2G043DA02 ,  2G043EA01 ,  2G043FA02 ,  2G043GA07 ,  2G043GB21 ,  2G043LA01 ,  2G043NA13 ,  2G045AA24 ,  2G045BA14 ,  2G045BB25 ,  2G045FA16 ,  2G045FB12 ,  2G045GC15 ,  2H052AA00 ,  2H052AA09 ,  2H052AC34 ,  2H052AF02

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 顕微鏡の観察方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-255444   Applicant：オリンパス光学工業株式会社
• 特異的結合のアッセイにおける検出可能なシグナルを増強するための方法および組成物
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平11-277610   Applicant：アフィメトリックスインコーポレイテッド

Article cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• SCIENCE, 19980925, V281, P2016-2018