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J-GLOBAL ID：200903031931760066

指紋照合処理方式

Inventor： 井垣 誠吾 ,  新崎 卓 ,  横山 乾
Applicant, Patent owner： 富士通株式会社
Agent (1)： 森田 寛 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993011414
Publication number (International publication number)：1994223160
Application date： Jan. 27, 1993
Publication date： Aug. 12, 1994
Summary：

【要約】【目的】 本発明は、指紋照合処理方式に関し、位置合せの失敗に起因する照合失敗を少なくすることを目的とする。【構成】 構造特徴情報検出部3が、登録用に入力された指紋画像の構造特徴情報5を検出し、前記検出した構造特徴情報5を辞書データ4の一部として指紋辞書20に登録する。構造特徴比較部6が、構造特徴情報5を用いて、指紋照合のための位置合せを行う。具体的には、照合用に入力された指紋画像についての構造特徴情報を検出し、これと構造特徴情報5とを比較することによって、登録用及び照合用に入力された指紋画像の位置合せを行う。

Claim (excerpt)：

辞書データ(4)を登録してなる指紋辞書(20)と、登録用に入力された指紋画像から前記辞書データ(4)を作成して前記指紋辞書(20)への登録を行う登録処理部(10)と、前記指紋辞書(20)を用いて照合用に入力された指紋画像について指紋照合を行う照合処理部(30)とを備えた指紋照合処理装置において、前記登録用に入力された指紋画像の構造特徴情報(5)を検出する構造特徴情報検出部(3)を前記登録処理部(10)に設け、前記構造特徴情報(5)を用いて、前記指紋照合のための位置合せを行う構造特徴比較部(6)を前記照合処理部(30)に設け、前記構造特徴情報検出部(3)が前記検出した構造特徴情報(5)を当該辞書データ(4)の一部として前記指紋辞書(20)に登録し、前記構造特徴比較部(6)が、前記照合用に入力された指紋画像についての構造特徴情報を検出し、これと前記辞書データ(4)内の前記構造特徴情報(5)とを比較することによって、前記登録用及び照合用に入力された指紋画像の位置合せを行うことを特徴とする指紋照合処理方式。