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J-GLOBAL ID：200903031937435787
ロゴマーク等のパターンの検査装置及び方法、並びにロゴマーク等のパターン辞書作成装置
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
高崎 芳紘
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994014307
Publication number (International publication number)：1995218446
Application date： Feb. 08, 1994
Publication date： Aug. 18, 1995
Summary：
【要約】【目的】 隣り合う文字相互が重なり合って文字毎の切出しが不可能なロゴマーク等の、パターンの切出しを、確実に行って、パターン検査をしたい。【構成】 基準パターンについて、辞書パターン及び切出し領域及び小ブロック化の位置や距離を登録しておく。この登録した切出し領域及びこの領域内の小ブロック化の位置や距離に従って検査パターンを切出し、これを辞書パターンと比較して検査を行う。切出し領域は、水平、垂直の投影分布像から得、小ブロック化は各切出し領域を任意に切出したものである。これによって、文字単位で検査するのではなく、小ブロック単位に検査する。
Claim (excerpt)：
ロゴマーク等の基準パターンの切出し領域毎に、小ブロック毎に切出した基準パターンを辞書パターンとして登録すると共に、各切出し領域の位置及び大きさ、並びに小ブロックの区分を示す各情報を登録する第1の手段と、検査対象となるロゴマーク等のパターンを撮像する第2の手段と、この映像パターンの、切出し領域及び各切出し領域内の小ブロック化を前記登録した各情報をもとに行い、各切出し領域内で小ブロックに従ってパターンを切出す第3の手段と、各切出し領域内の小ブロック切出しパターンと、前記辞書パターンの対応する切出し領域内の小ブロック切出し基準パターンと、のパターンマッチングを、切出し領域対応及び小ブロック対応に行う第4の手段と、より成るロゴマーク等のパターンの検査装置。
IPC (3)：
G01N 21/88
, G06T 7/00
, G06K 9/20 340
