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J-GLOBAL ID：200903031947193765
ホログラム試験装置及びその方法
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
井桁 貞一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992220349
Publication number (International publication number)：1994066679
Application date： Aug. 19, 1992
Publication date： Mar. 11, 1994
Summary：
【要約】【目的】 ホログラム試験装置及びその方法に関し、ホログラムの回折効率を連続して測定でき、しかも、構成が簡単で安価に実施できるようにしたホログラム試験装置及びその方法を提供することを目的とする。【構成】 発散光を射出する光源2と、ホログラム1の近傍にホログラム1と平行に配置され、一直線状のスリット5を有する遮光板4と、ホログラム1の回折方向の所定の位置と、透過方向の所定の位置とに位置切り替え可能に、かつ、両位置でスリット5に対して平行移動可能に設けられた光センサ3と、上記光センサ3をスリット5に対して平行移動させるセンサ移動手段6とが設けられる構成とする。
Claim (excerpt)：
ホログラム(1) に光を照射する光源(2) と、該光源(2) からホログラム(1) に照射され、ホログラム(1) で回折された回折光量、または、上記光源(2) からホログラム(1) に照射され、ホログラム(1) を透過した透過光量を測定する光センサ(3) とを備えるホログラム試験装置において、上記光源(2) が発散光を射出するものであり、上記ホログラム(1) の近傍にホログラム(1) と平行に配置される、一直線状のスリット(5) を有する遮光板(4) が設けられ、上記光センサ(3) は、ホログラム(1) の回折方向の所定の位置と、透過方向の所定の位置とに位置切り替え可能に、かつ、両位置でスリット(5) に対して平行移動可能に設けられたものであり、上記光センサ(3) をスリット(5) に対して平行移動させるセンサ移動手段(6)が設けられることを特徴とするホログラム試験装置。
IPC (2)：
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