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J-GLOBAL ID:200903031987156439
粒子分析装置
Inventor:
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
野河 信太郎
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1994279490
Publication number (International publication number):1996136438
Application date: Nov. 14, 1994
Publication date: May. 31, 1996
Summary:
【要約】【構成】 細孔によって連通する第1および第2セルに電解液を収容し、その電解液に浮遊する粒子が第1セルから第2セルへ細孔を介して流れるように構成したフローセルと、第1および第2セルの電解液中にそれぞれ設けられた第1および第2電極と、粒子の細孔の通過に伴って変化する第1および第2の電極間の電気抵抗の変化に基づく電気抵抗信号を検出する第1検出手段と、流れる粒子に光ビームを照射する光源手段と、光ビームを受けた粒子からの散乱光を検出する第2検出手段と、第2検出手段により検出された各粒子の散乱光信号から散乱光信号発生期間を計時する計時手段と、各粒子に関する電気抵抗信号と散乱光信号発生期間との相関関係から粒子の種類を判別する判別手段を備える。【効果】 粒子の長さ情報と体積情報の相関関係を求めることにより、尿中に含まれる粒子、つまり円柱、粘液糸および上皮細胞を容易に弁別することができる。
Claim (excerpt):
細孔によって連通する第1および第2セルに電解液を収容し、その電解液に浮遊する粒子が第1セルから第2セルへ細孔を介して流れるように構成したフローセルと、第1および第2セルの電解液中にそれぞれ設けられた第1および第2電極と、粒子の細孔の通過に伴って変化する第1および第2の電極間の電気抵抗の変化に基づく電気抵抗信号を検出する第1検出手段と、流れる粒子に光ビームを照射する光源手段と、光ビームを受けた粒子からの散乱光を検出する第2検出手段と、第2検出手段により検出された各粒子の散乱光信号から散乱光信号発生期間を計時する計時手段と、各粒子に関する電気抵抗信号と散乱光信号発生期間との相関関係から粒子の種類を判別する判別手段を備えた粒子分析装置。
IPC (4):
G01N 15/12
, G01N 15/14
, G01N 21/49
, G01N 33/493
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (3)
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混在する粒子の重複検出による誤差の補正装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平3-258258
Applicant:テクニコンインストルメンツコーポレーション
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尿中の細胞分析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平3-108045
Applicant:東亜医用電子株式会社
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イメージングフローサイトメータ
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平3-277560
Applicant:東亜医用電子株式会社
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