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J-GLOBAL ID：200903032021353307

強磁場低温物性測定装置

Inventor： 長谷部 次教
Applicant, Patent owner： 住友重機械工業株式会社
Agent (1)： 池澤 寛
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998156825
Publication number (International publication number)：1999337631
Application date： May. 22, 1998
Publication date： Dec. 10, 1999
Summary：

【要約】【課題】 液体窒素あるいは液体ヘリウムなどの冷媒の充填および補充を必要とせず、操作が簡単かつ容易であるとともに、試料Tを冷却するための初期コストあるいはランニングコストを低減することができる強磁場低温物性測定装置40を提供すること。【解決手段】 超電導コイル9を冷却するための冷凍機7により試料Tをも冷却するようにすることに着目したもので、冷凍機7により冷却する超電導コイル9を磁場源とする強磁場を磁場利用空間3とし、磁場利用空間3における試料Tの物性を測定するための強磁場低温物性測定装置であって、超電導コイル9による磁場利用空間3内に超電導コイル9の真空容器6とは別に独立した真空の試料室41を形成し、試料室41内に設けるとともに試料Tを取り付ける試料ホルダー43を、冷凍機7の冷却ステージ7Bに熱的に接続したことを特徴とする。

Claim (excerpt)：

真空容器内に設けるとともに冷凍機により冷却する超電導コイルを磁場源とする強磁場を磁場利用空間とし、この磁場利用空間における試料の物性を測定するための強磁場低温物性測定装置であって、前記超電導コイルによる前記磁場利用空間内に前記超電導コイルの前記真空容器とは別に独立した真空の試料室を形成し、この試料室内に設けるとともに前記試料を取り付ける試料ホルダーを、前記冷凍機の冷却ステージに熱的に接続したことを特徴とする強磁場低温物性測定装置。

IPC (3)：

G01R 33/12 ZAA ,  G01N 27/72 ,  H01L 39/04 ZAA

FI (3)：

G01R 33/12 ZAA Z ,  G01N 27/72 ,  H01L 39/04 ZAA

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• 磁場下物性測定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-049768   Applicant：古河電気工業株式会社