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J-GLOBAL ID：200903032043336058

イオンビームを用いた炭素分析方法

Inventor： 安田 啓介
Applicant, Patent owner： 財団法人若狭湾エネルギー研究センター
Agent (1)： 伊東 哲也
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003357169
Publication number (International publication number)：2005121493
Application date： Oct. 17, 2003
Publication date： May. 12, 2005
Summary：

【課題】 重い母材中に存在する炭素であっても、炭素濃度の深さ分析を定量的にかつ簡便に行うことができる炭素の分析手法を提供する。【解決手段】 12C(p,p’)12C*反応からの散乱陽子と12C*からのガンマ線を同時計測することにより試料中の炭素に由来する事象のみを選択し、散乱陽子のエネルギースペクトルから炭素の深さ分布を定量的に求めることを特徴とする炭素分析方法。【選択図】 図5

Claim (excerpt)：

12C(p,p’)12C*反応からの散乱陽子と12C*からのガンマ線を同時計測することにより試料中の炭素に由来する事象のみを選択し、散乱陽子のエネルギースペクトルから炭素の深さ分布を定量的に求めることを特徴とするイオンビームを用いた炭素分析方法。

IPC (1)：

G01N23/225

FI (1)：

G01N23/225

F-Term (9)：

2G001AA05 ,  2G001BA16 ,  2G001CA02 ,  2G001CA05 ,  2G001GA08 ,  2G001KA01 ,  2G001LA11 ,  2G001MA05 ,  2G001NA03