Pat
J-GLOBAL ID：200903032060851802
自己評価力測定方法、自己評価力測定装置、自己評価力測定プログラムおよびその記録媒体
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
松下 浩二郎
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004325737
Publication number (International publication number)：2005092231
Application date： Nov. 09, 2004
Publication date： Apr. 07, 2005
Summary：
【課題】 学習者の自己評価力を正確且つ客観的に測定できるようにして、自己評価力の向上および自己学習力の育成に資することを可能とする。【解決手段】 学習者の学習結果について、学習者本人、指導者、他の学習者がそれぞれ入力した評価結果に基いて、学習者本人による自己評価点と他の学習者による評価点との差である第一の差異、および自己評価点と指導者による評価点との差である第二の差異を算出し、学習者の集団における各学習結果の自己評価点の平均と他の学習者による評価点との差である第三の差異、および学習者の集団における各学習結果の自己評価点の平均と指導者による評価点との差である第四の差異を算出して、所定の判定方法により第一の差異と第三の差異の絶対値を比較するとともに第二の差異と第四の差異の絶対値を比較して学習者の自己評価力レベルを判定し、自己評価力得点として出力する、自己評価力測定方法とした。【選択図】 図3
Claim (excerpt)：
所定の学習者による学習結果について、前記学習者本人、指導者、他の学習者がコンピュータネットワーク上の各端末からそれぞれ入力した評価結果に基いて、コンピュータが行う前記学習者の自己評価力を客観的に測定するための自己評価力測定方法であって、
前記学習結果に関し、前記学習者本人による自己評価点と前記他の学習者による評価点との差である第一の差異、および前記自己評価点と前記指導者による評価点との差である第二の差異を算出する段階と、
学習者の集団における各学習結果の自己評価点の平均と前記他の学習者による評価点との差である第三の差異、および前記学習者の集団における各学習結果の自己評価点の平均と前記指導者による評価点との差である第四の差異を算出する段階と、
所定の判定方法により、前記第一の差異と前記第三の差異の絶対値を比較するとともに前記第二の差異と前記第四の差異の絶対値を比較して前記学習者の自己評価力レベルを判定する段階と、該判定の結果を基に前記自己評価力の測定結果として出力する段階とを備えている、
ことを特徴とする自己評価力測定方法。
IPC (2)：
FI (2)：
F-Term (6)：
2C028AA12
, 2C028BA01
, 2C028BB04
, 2C028BC02
, 2C028BD02
, 2C028CA13
