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J-GLOBAL ID：200903032112511290

光波測距計

Inventor： 西川 尚之 ,  高田 裕司 ,  松田 啓史 ,  茨 伸行
Applicant, Patent owner： 松下電工株式会社
Agent (1)： 石田 長七 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994113173
Publication number (International publication number)：1995318648
Application date： May. 26, 1994
Publication date： Dec. 08, 1995
Summary：

【要約】【目的】 変調による位相差から測定物体までの距離測定を行うものにおいて、誤測定が生じない。【構成】 測定物体9を強度変調レーザー光で照射する光源1と、測定物体からの反射光を受光する受光素子5とを備えた光波測距計において、測定物体についての希望の距離測定範囲と、受光光学系と、受光素子の受光面積と、レーザー光の変調周波数との関係から設定した大きさの光遮蔽物6を設置する。希望の測定範囲外の距離からの反射光は、受光素子に入射することがないものとする。

Claim (excerpt)：

測定物体を強度変調レーザー光で照射する光源と、測定物体からの反射光を受光する受光素子とを備えた光波測距計であって、測定物体から受光素子に至る受光路中の光軸上に、測定物体についての希望の距離測定範囲と、受光光学系と、受光素子の受光面積と、変調周波数との関係から設定した大きさの光遮蔽物を設置していることを特徴とする光波測距計。

IPC (2)：

G01S 17/36 ,  G01S 7/48