測量装置

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：鈴木晴敏
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993307348
Publication number (International publication number)：1995139942
Application date： Nov. 12, 1993
Publication date： Jun. 02, 1995
Summary：

【要約】【目的】測点の比高及び距離を同時に計測可能な簡便且つ安価な測量装置を提供する。【構成】測量装置は測点Pに配置される標識具1と、基準点に配置される測定器2との組み合わせからなる。標識具1は既知間隔で多数配列した輝状の実マーク11を有している。測定器2はレンズ21とCCDイメージセンサ22とコンピュータ26を備えている。レンズ21は視野に含まれる輝状の実マーク11からの放射光を集めて収束光を形成する。CCDイメージセンサ22は収束光を受光して輝状の実マーク11に応じた輝度画像を生成する。コンピュータ26は輝度画像を処理して撮像された像マークを抽出し、実マーク配列と像マーク配列との相対的な関係から測点Pに関する測量情報を算出する。この測量情報には比高と距離が含まれる。

Claim (excerpt)：

測点に配置される標識具と、基準点に配置される測定器との組み合わせからなる測量装置であって、前記標識具は、既知間隔で多数配列した輝状の実マークを有しており、前記測定器は、視野に含まれる輝状の実マークからの放射光を集めて収束光を形成するレンズ手段と、該収束光を受光して該輝状の実マークに応じた輝度画像を生成する撮像手段と、該輝度画像を処理して撮像された像マークを抽出し、実マーク配列と像マーク配列との相対的な関係から該測点に関する測量情報を算出する処理演算手段とを有する事を特徴とする測量装置。

IPC (2)：

G01C 5/00 , G01C 15/06

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

特開平4-147011
特開昭63-222213
特開平4-147011

Show all

Return to Previous Page