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J-GLOBAL ID：200903032252813963

表面構造変化の決定のための光センサの屈折率の監視

Inventor： イバーソン,ベント ,  ステンバーグ,エサ
Applicant, Patent owner： バイアコア アーベー
Agent (1)： 山本 秀策
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：1997511123
Publication number (International publication number)：1999512186
Application date： Aug. 30, 1996
Publication date： Oct. 19, 1999
Summary：

【要約】本発明は、光センサ表面の膜層中において、膜層と相互作用し得る種を含有する流体試料と接触するとき膜層で起こる化学的または物理的な相互作用を分析する方法であって、該相互作用は、入射光および/または反射光のパラメータと、光強度信号曲線の最小、最大および重心のうちの1つとの間の関係を測定することにより、光強度信号生成技術を用いて膜層の屈折率を決定することによって監視される方法を提供する。この方法はまた、光強度信号の最小、最大、または重心における値の経時変動を監視して、(i)相互作用が制限された質量輸送であるときおよび該相互作用が動力学的に制御されるときを決定するための、感知された膜層体積内の試料種濃度の均一性の程度であって、変動する光強度信号レベルは質量輸送制限を示し、安定した光強度信号レベルは動力学的制御を示す、試料種濃度の均一性の程度、および(ii)相互作用中または該相互作用後の感知された膜層体積内の均一性/不均一性の程度であって、安定した光強度信号レベルの変化は均一性/不均一性の変化の程度を示し、またこの変化の程度に対応する、均一性/不均一性の程度のうちの少なくとも一方を決定することを特徴とする。

Claim (excerpt)：

光センサ表面の膜層が、該膜層と相互作用し得る種を含有する流体試料と接触するとき該膜層で起こる化学的または物理的な相互作用を分析する方法であって、該相互作用は、入射光および/または反射光のパラメータと、光強度信号曲線の最小、最大および重心のうちの1つとの間の関係を測定することにより、光強度信号生成技術を用いて該膜層の屈折率を測定することによって監視される方法において、該光強度信号の該最小、最大、または重心における値の経時変動を監視して、(i)該相互作用が制限された質量輸送であるときおよび該相互作用が動力学的に制御されるときを決定するための、感知された膜層体積内の試料種濃度の均一性の程度であって、変動する光強度信号レベルは質量輸送制限を示し、安定した光強度信号レベルは動力学的制御を示す、試料種濃度の均一性の程度、および(ii)該相互作用中または該相互作用後の該感知された膜層体積内で得られる均一性/不均一性の程度であって、安定した光強度信号レベルの変化は均一性/不均一性の変化の程度を示し、またこの変化の程度に対応する、均一性/不均一性の程度のうちの少なくとも一方を決定することを特徴とする、方法。

IPC (3)：

G01N 33/543 593 ,  G01N 21/21 ,  G01N 21/27

FI (3)：

G01N 33/543 593 ,  G01N 21/21 Z ,  G01N 21/27 C