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J-GLOBAL ID：200903032306661080

透過X線による断層像検出方法とその装置

Inventor： 綾部 寿彦 ,  久邇 朝宏 ,  一ノ瀬 敏彰 ,  越柴 洋哉
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 秋本 正実
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993053488
Publication number (International publication number)：1994265487
Application date： Mar. 15, 1993
Publication date： Sep. 22, 1994
Summary：

【要約】【目的】 コントラストを低下させることなく、撮像対象内の任意の高さでの鮮明なX線断層像を検出すること。【構成】 X線発生部1から撮像対象3に照射角度が変えられた状態でX線2が照射された場合、対象3からの透過X線像は検出部4で照射角度対応に検出されるが、これら透過X線像では、部材5による像が相異なる位置に存在したものとして得られるので、画像処理によりこれら透過X線画像間の対応する部分各々について、透過X線量が多い方の画像値を積極的に選択した上、合成するようにすれば、部材5による像が含まれない透過X線画像が得られるというものである。

Claim (excerpt)：

撮像対象内の同一焦点面について複数枚の透過X線画像を得るべく、上記撮像対象に様々な方向からX線を照射する一方、該撮像対象からの透過X線像をX線照射方向対応に検出した上、該複数の透過X線画像から、同一対応点各々について、最大透過X線量に係る画像値が選択・合成されることで、上記焦点面での断層像が1枚の透過X線画像として検出されるようにした、透過X線による断層像検出方法。

IPC (2)：

G01N 23/04 ,  A61B 6/02 301