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J-GLOBAL ID：200903032374941830
発光測定装置
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
高島 一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993231431
Publication number (International publication number)：1995083831
Application date： Sep. 17, 1993
Publication date： Mar. 31, 1995
Summary：
【要約】【構成】 発光検出手段Sと、この発光検出手段に試料の発光を導入する受光部1と、この受光部の外周面に沿って移動自在な中空状遮光部材3と、上記受光部の光通路10を常時は閉塞し発光測定時に開放する開閉自在なシャッター2と、測定試料4が収容され上記光通路10に開口部5を対向させて配置される容器6とを備えてなる発光測定装置Aである。【効果】 発光測定時あるいは非測定時にかかわらず、外光や迷光が発光検出手段の受光部に侵入することが防止でき、高度な測定精度を有する発光測定装置を提供できる。また、遮光ケースを不要にでき、装置自体を小型化、低価格にできる。
Claim (excerpt)：
発光検出手段と、この発光検出手段に試料の発光を導入する筒状受光部と、この筒状受光部の外周面に沿って移動自在な中空状遮光部材と、上記筒状受光部の光通路を常時は閉塞し発光測定時に開放する開閉自在なシャッターと、測定試料が収容され上記筒状受光部に開口部を対向させて配置される容器とを備えてなる発光測定装置。
IPC (2)：
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