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J-GLOBAL ID：200903032543487478

配管内部状態識別方法とその装置

Inventor： 飯村 正一 ,  長沼 徹郎 ,  佐藤 博
Applicant, Patent owner： 東京瓦斯株式会社 ,  日立湘南電子株式会社
Agent (1)： 秋本 正実
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995117272
Publication number (International publication number)：1996313499
Application date： May. 16, 1995
Publication date： Nov. 29, 1996
Summary：

【要約】【目的】 配管一般内部での各種状態を、反射部位とその反射部位での形状として音波により高精度に、しかも速やかに識別すること。【構成】 送信音波パルスの周波数更新の度に、配管内部への送信音波パルスに対する反射音波パルス32はその送信音波パルス波形31との間での相関処理結果34からは特徴量が求められるが、このように、反射部位対応に抽出された特徴量(特徴量の、周波数の更新に伴う変化パターン)は予め複数記憶されている標準特徴量(特徴量の標準変化パターン)各々と比較照合されることによって、反射部位とその反射部位での形状の識別決定37が行われ得るものである。

Claim (excerpt)：

送信音波パルスの周波数がn(n:2以上の整数、以下、同様)種類に亘って順次更新可として、配管内部に平面波として送信された送信音波パルスに対する反射音波パルスを受信処理することによって、該配管内部での各種状態が反射位置と該反射位置での形状として識別されるようにした配管内部状態識別方法であって、送信音波パルスの周波数が更新される度に、配管内部に送信された該周波数の送信音波パルスに対するる反射音波パルスは電気信号として受信された後にA/D変換された状態として、予め記憶されている該周波数対応の送信音波パルス波形との間で相関処理された上、相関処理結果として一時記憶されるようにし、周波数対応に一時記憶されている相関処理結果各々からは、特徴量としての極大点、極小点各々についての情報が抽出された上、周波数対応に抽出された特徴量の、周波数の更新に伴う変化パターンを予め複数記憶されている標準変化パターン各々と比較照合することによって、配管内部での各種状態が反射部位と該反射部位での形状として識別されるようにした配管内部状態識別方法。