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J-GLOBAL ID:200903032544051908
収容型構造体、測定装置、方法およびプログラム
Inventor:
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
細田 益稔
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2005356486
Publication number (International publication number):2007163170
Application date: Dec. 09, 2005
Publication date: Jun. 28, 2007
Summary:
【課題】電磁波が照射されることによって測定される被測定物を有利に取り扱う。【解決手段】導体板10の導体で囲まれた空隙部12が縦方向および横方向に配列された格子1と、液体20(溶質(被測定物)22を含んでいる)および格子1を収容する容器50とを備え、容器50の正面52は、溶質(被測定物)22の特性を測定するために空隙部12に照射される測定用電磁波を透過させる。【選択図】図9
Claim (excerpt):
所定の平面において導体で囲まれた空隙部が配置された空隙配置構造体と、
被測定物および前記空隙配置構造体を収容する容器と、
を備え、
前記容器は、前記被測定物の特性を測定するために前記空隙部に照射される測定用電磁波を透過させる、
収容型構造体。
IPC (3):
G01N 21/35
, G01N 21/01
, G01N 21/05
FI (3):
G01N21/35 Z
, G01N21/01 B
, G01N21/05
F-Term (19):
2G057AA01
, 2G057AA02
, 2G057AB02
, 2G057AC01
, 2G057AC03
, 2G057BA05
, 2G057CA07
, 2G057DB05
, 2G059AA02
, 2G059BB01
, 2G059BB04
, 2G059DD12
, 2G059EE01
, 2G059EE02
, 2G059EE11
, 2G059FF08
, 2G059HH01
, 2G059KK01
, 2G059MM05
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (2)
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テラヘルツ波を用いた差分イメージング方法及び装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2002-270917
Applicant:理化学研究所
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位相差板
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2002-279443
Applicant:財団法人大阪産業振興機構
Cited by examiner (5)
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マスキング部材、光測定方法、光測定用キット及び光測定用容器
Gazette classification:再公表公報
Application number:JP2005006110
Applicant:浜松ホトニクス株式会社
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ナノ構造を有する集積化ピラー構造光学素子
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2004-154158
Applicant:独立行政法人物質・材料研究機構
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拡散定数変化による蛋白質の会合検出方法及び装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2002-354808
Applicant:関西ティー・エル・オー株式会社
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位相差板
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2002-279443
Applicant:財団法人大阪産業振興機構
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測定方法及び装置、並びに、イメージ化方法及び装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-074551
Applicant:株式会社栃木ニコン, 株式会社ニコン
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