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J-GLOBAL ID：200903032573952663

磁気抵抗効果型ヘッドの評価方法および評価装置

Inventor： 深町 啓介 ,  三俣 千春 ,  下江 治
Applicant, Patent owner： 日立金属株式会社
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997231533
Publication number (International publication number)：1999073612
Application date： Aug. 27, 1997
Publication date： Mar. 16, 1999
Summary：

【要約】【課題】 永久磁石バイアス方式MRヘッドについて、永久磁石膜の保磁力や角形性を実際の素子形状で測定可能であり、製造工程中で製品不良を発見して適正な工程管理を行うことができ、製造効率を著しく向上させる事のできる磁気抵抗効果型ヘッドの評価装置を提供する。【解決手段】 MRヘッドに縦バイアスを与えるために形成される永久磁石の磁化状態を着磁磁界または減磁磁界により変化させ、縦方向の抵抗変化から計算される縦バイアス磁界の着磁磁界依存性または減磁磁界依存性から永久磁石の特性を測定するものである。

Claim (excerpt)：

永久磁石を用いて磁気抵抗効果素子に縦バイアスを印加する手段を有する磁気抵抗効果型ヘッドの評価装置であって、前記縦バイアスに同方向で前記永久磁石の磁化状態を変化させるための着磁磁界発生用コイルと交番磁界を印加する手段を持ち、この交番磁界の変化に対する前記磁気抵抗効果型ヘッドの磁気抵抗効果素子の抵抗変化を計測する測定手段とを備えたことを特徴とする磁気抵抗効果型ヘッドの評価装置。