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J-GLOBAL ID：200903032647377062
視程学習装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
田澤 博昭 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002069051
Publication number (International publication number)：2003270357
Application date： Mar. 13, 2002
Publication date： Sep. 25, 2003
Summary：
【要約】【課題】 視程計を利用すれば、視程計設置場所における視程をリアルタイムに計測することができる。しかし、視程を知りたい地点が多数存在する場合、多くの視程計を設置しなければならず、不経済である課題があった。【解決手段】 観測時刻が同一時刻のエコー強度分布と視程フラグから視程判別用の判別関数を生成し、その判別関数を表現するパラメータを視程推定装置に出力する。これにより、多くの視程計を設置することなく、視程推定装置による視程の推定精度を高めることができる視程学習装置を得ることができる。
Claim (excerpt)：
空間中に電磁波を放射して、空気中の粒子に反射された電磁波を受信し、その電磁波から注目地点を含む領域のエコー強度分布を観測する強度分布観測手段と、注目地点の視程を測定し、その測定結果を二値化する視程測定手段と、上記強度分布観測手段により観測されたエコー強度分布と上記視程測定手段の二値化結果である視程フラグから視程判別用の判別関数を生成し、その判別関数を表現するパラメータを出力する判別関数生成手段とを備えた視程学習装置。
IPC (2)：
FI (2)：
F-Term (6)：
5J070AB01
, 5J070AB24
, 5J070AC20
, 5J070AE13
, 5J070AH19
, 5J070AK22
