材料の複素透過率の局部測定のための装置

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：山本恵一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001283433
Publication number (International publication number)：2002189043
Application date： Sep. 18, 2001
Publication date： Jul. 05, 2002
Summary：

【要約】 (修正有)【課題】材料の複素透過率の非破壊判定のためのプローブを提供する。【解決手段】プローブ10は調査中の材料内で明確に定められたサンプル11の大きさ内にプローブの領域を閉じ込めることができる平衡2導体伝送線路構造に基づいている。2導体伝送線路12のプローブ端15は調査中の前記サンプルの近傍に置かれる。前記構造は誘電体の間隔により分離されている2つの導体を含んでいる。前記サンプルの特性は前記2つの導体間のキャパシタンスと散逸の測定又は前記プローブ端から反射されるマイクロ波信号の複素反射係数の測定のいずれかにより判定される。前記反射係数は前記プローブ端と反対の端にある終端プレート17に結合された前記2導体伝送線路から成る共振器を形成することにより最良に測定できる。

Claim (excerpt)：

サンプルの複素透過率の局部測定のためのプローブであって、前記プローブは、少なくとも一組の間隔をあけて伸長し、誘電体の媒体により間隔が作られている平衡2導体伝送線路を有し、前記伝送線路は前記サンプルのかなり近傍に置かれているプローブ端を有し、(a)前記伝送線路の前記導体間で測定したキャパシタンスと消費;(b)前記伝送線路の前記プローブ端におけるマイクロ波信号の複素反射係数;のいずれか一つに関する前記サンプルの結果を測定する測定手段を備えていることを特徴とするプローブ。

IPC (3)：

G01R 27/06 , G01N 13/10 , G01N 22/00

FI (4)：

G01R 27/06 , G01N 13/10 H , G01N 22/00 S , G01N 22/00 T

F-Term (6)：

2G028AA01 , 2G028BB20 , 2G028CG15 , 2G028DH15 , 2G028EJ01 , 2G028HM10

Article cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

Snow Fork for Field Determination of the Density and Wetness Profiles of a Snow Pack
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