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J-GLOBAL ID：200903032762000436

線膨張係数の測定方法

Inventor： 中山 明 ,  池田 博敬
Applicant, Patent owner： 京セラ株式会社
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998079778
Publication number (International publication number)：1999281599
Application date： Mar. 26, 1998
Publication date： Oct. 15, 1999
Summary：

【要約】【課題】簡単な装置構成でセラミックスやガラス等の絶縁体材料の室温から数10Kまでの低温までの線膨張係数を高精度に測定可能な測定方法を提供する。【解決手段】絶縁体材料で作製され、内壁に導体膜5が被着形成された中空体4の両端面を導体板6、7で挟持して電磁場の空洞共振器3を構成し、共振器3における共振周波数、例えば、TE011 、TE012 の各モードにおける共振周波数の温度に対する変化を測定し、その共振周波数の変化から中空体4の寸法変化を求め、例えば、その寸法変化-温度の回帰曲線から絶縁体材料の線膨張係数を算出する。

Claim (excerpt)：

絶縁体材料からなる被測定試料で作製され、内壁に導体膜が被着形成された中空体の両端面を導体板で挟持して空洞共振器を構成し、該共振器における共振周波数の温度に対する変化を測定し、その共振周波数の変化から前記中空体の寸法変化を求め、該寸法変化から線膨張係数を算出することを特徴とする線膨張係数の測定方法。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 特公昭57-045335
  
• 高温用マイクロ波アンテナ及びこれを用いた空胴共振器
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-133184   Applicant：三菱重工業株式会社