内視鏡装置

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：伊藤進
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995003582
Publication number (International publication number)：1995281105
Application date： Jan. 12, 1995
Publication date： Oct. 27, 1995
Summary：

【要約】【目的】内視鏡を用いた光切断法で、物体面の傷の深さ等を斜め方向からも測長が可能な内視鏡装置を提供すること。【構成】電子内視鏡のレーザライン投影部からレーザラインをパイプ内面の腐蝕等による凹部を通るように投影し、その画像上におけるパイプ内面上における凹凸のないレーザライン像部分p2 ,p3 に設定した計測の基準となる直線を規定するための指定点a,bと凹部像45′における深さを計測しようと望む計測の指定点cをキーボードから指示することにより、CPUは基準となる指定点a,bを通る直線を算出し、さらに指定点cからこの直線に垂線を下した場合の距離kに対応する実際の値Kを求め、凹部の深さを算出する。

Claim (excerpt)：

細長の挿入部と、前記挿入部の先端側に設けられ、対象物に照明光を出射する照明光学系と、前記照明光により照明された対象物の像を結ぶ対物光学系と、前記対象物の面に存在する計測対象となる凹部又は凸部を通るリファレンスラインを投影するリファレンスライン投影手段と、前記対物光学系に基づく像を光電変換する撮像素子とを備えた内視鏡と、前記撮像素子に対する信号処理を行い、映像信号を生成する信号処理手段と、前記映像信号が入力されることにより、前記リファレンスラインが重畳された前記対象物に対応する画像を表示する表示手段と、前記画像の任意位置を指定する位置指定手段と、前記面を通るリファレンスラインを計測の基準ラインと見なして前記基準ラインを3次元的に表す近似ラインの表式の算出と、前記凹部又は凸部を通るリファレンスライン上に前記位置指定手段で指定された点に対応する3次元座標位置の算出と、前記近似ラインと前記3次元座標位置の距離を演算して前記凹部の深さ又は凸部の高さの算出とを行う演算手段と、を有する内視鏡装置。

IPC (2)：

G02B 23/24 , A61B 1/00 300

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (10)

特開平3-128043
特開昭57-140988
特開平3-073133

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