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J-GLOBAL ID：200903032980673345

レ-ザ-イオン化質量分析装置

Inventor： 永野 英樹 ,  宮澤 邦夫 ,  近藤 隆明
Applicant, Patent owner： 日本鋼管株式会社
Agent (1)： 田中 政浩
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999007686
Publication number (International publication number)：2000040488
Application date： Jan. 14, 1999
Publication date： Feb. 08, 2000
Summary：

【要約】【課題】 常温で測定対象物質を確実に捕集でき、急速に加熱すると速やかに脱着することのできるコンパクトな濃縮手段を備えている超音速分子ジェットのレーザー多光子イオン化質量分析装置を提供する。【解決手段】 上記課題は、分子ジェットを形成するパルスバルブを備えた試料導入部と、パルスレーザー光発振器と、該発振器から発せられたレーザー光が通過しうる窓を有する真空イオン化室または相当する部位と、該レーザー光によってイオン化された分子の質量を分析する質量分析計を有するレーザーイオン化質量分析装置において、該試料導入部またはその上流側に測定対象物質濃縮器を備えたレーザーイオン化質量分析装置によって解決される。

Claim (excerpt)：

分子ジェットを形成するパルスバルブを備えた試料導入部と、パルスレーザー光発振器と、該発振器から発せられたレーザー光が通過しうる窓を有する真空イオン化室または相当する部位と、該レーザー光によってイオン化された分子の質量を分析する質量分析計を有するレーザーイオン化質量分析装置において、該試料導入部またはその上流側に測定対象物質濃縮器を備えたレーザーイオン化質量分析装置

IPC (5)：

H01J 49/04 ,  G01N 27/62 ,  H01J 27/24 ,  H01J 49/10 ,  G01N 27/64

FI (5)：

H01J 49/04 ,  G01N 27/62 G ,  H01J 27/24 ,  H01J 49/10 ,  G01N 27/64 B