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J-GLOBAL ID：200903033007452404
蛍光測定装置
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
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Agent (1)：
小川 勝男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998073698
Publication number (International publication number)：1999271225
Application date： Mar. 23, 1998
Publication date： Oct. 05, 1999
Summary：
【要約】【課題】測定条件の異なる複数の測定点の蛍光測定を自動的に実行することを目的とする。【解決手段】測定条件の異なる複数の測定点に対応させて電子光学系,分光光度計に対する測定条件を予め記録しておき、各測定点の測定時に測定条件を自動的に設定して測定を実行する。
Claim (excerpt)：
試料を励起させるための励起エネルギー線を試料上に照射させる手段と、励起された試料から発生する光を分光する分光手段と、装置制御用コンピュータと、前記装置制御用コンピュータから移動制御可能な試料ステージとを備え、試料測定の際に、測定順または測定位置ごとに測定条件の自動設定が可能であることを特徴とする蛍光測定装置。
IPC (2)：
FI (2)：
G01N 21/62 A
, G01N 23/225
