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J-GLOBAL ID：200903033107766880

金属腐食度測定方法および装置

Inventor：
篠崎 美穂

About 篠崎 美穂


Applicant, Patent owner：
日本電気株式会社

About 日本電気株式会社


Agent (1)： 福山 正博
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004048927
Publication number (International publication number)：2005241316
Application date： Feb. 25, 2004
Publication date： Sep. 08, 2005
Summary：
【課題】金属表面における酸化物被膜の発生等の腐食度を簡単、且つ高精度で定量測定する金属腐食度測定方法および装置を提供する。【解決手段】被測定金属20の表面に、光源11から所定入射角度で可視光線15を照射し、その金属20の表面からの反射光線16を受光部13で受光する。光源11から照射される可視光線の波長を2種類又はそれ以上に切り替えて、反射光線の差を演算部14により求めて金属20の腐食度を決定する。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
被測定金属の表面に酸化物等の化合物が発生する表面腐食度を定量的に測定する金属腐食度測定方法において、 前記被測定金属の表面からの複数の波長の光線に対する反射率を求める工程と、前記反射率の差に基づいて前記被測定金属の表面の腐食度を求める工程とを有することを特徴とする金属腐食度測定方法。
IPC (2)：
G01N17/00 ,  G01N21/27
FI (2)：
G01N17/00 ,  G01N21/27 B
F-Term (18)：
2G050AA01 ,  2G050EB07 ,  2G050EC01 ,  2G051AA37 ,  2G051AB02 ,  2G051AB07 ,  2G051BA08 ,  2G051CB01 ,  2G051CB05 ,  2G059AA03 ,  2G059AA05 ,  2G059BB10 ,  2G059CC20 ,  2G059EE01 ,  2G059EE02 ,  2G059EE11 ,  2G059HH02 ,  2G059KK04
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (3)

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