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J-GLOBAL ID：200903033110359919

光ファイバを用いた構造物の変状計測方法および光ファイバセンサー

Inventor：
山本 彰

About 山本 彰


Applicant, Patent owner：
株式会社大林組

About 株式会社大林組


Agent (1)： 一色 健輔 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998273916
Publication number (International publication number)：2000097647
Application date： Sep. 28, 1998
Publication date： Apr. 07, 2000
Summary：
【要約】【課題】 構造物に大きな変位を生じても破断せずに変位を計測することができ、高い位置特定精度を有し、圧縮変位も詳細に計測できる変状計測方法の提供、およびそれに使用する光ファイバセンサーの提供。【解決手段】 計測対象となる構造物に螺旋状に整形した光ファイバセンサー15を取り付け、この光ファイバセンサー15の光伝搬特性の変化を電気光学的測定装置14により測定することで構造物の変状を計測する。
Claim (excerpt)：
計測対象となる構造物に螺旋状に整形した光ファイバセンサーを取り付け、この光ファイバセンサーの光伝搬特性の変化を電気光学的測定手段により測定することで前記構造物の変状を計測することを特徴とする光ファイバを用いた構造物の変状計測方法。
IPC (4)：
G01B 11/16 ,  E01D 1/00 ,  G01D 21/00 ,  G02B 6/00
FI (4)：
G01B 11/16 Z ,  E01D 1/00 Z ,  G01D 21/00 D ,  G02B 6/00 B
F-Term (11)：
2D059GG39 ,  2F065AA65 ,  2F065CC00 ,  2F065FF41 ,  2F065LL02 ,  2F065SS11 ,  2F076BA01 ,  2F076BB09 ,  2F076BD01 ,  2F076BD06 ,  2H038AA05
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (2)

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