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J-GLOBAL ID：200903033199891635

高温試験装置

Inventor： 横井 正顕
Applicant, Patent owner： 東伸工業株式会社
Agent (1)： 岡部 正夫 (外5名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995008147
Publication number (International publication number)：1996201253
Application date： Jan. 23, 1995
Publication date： Aug. 09, 1996
Summary：

【要約】【目的】 試験雰囲気が酸化性であってもその種類に拘わりなく1000°C以上の超高温においても従来の発熱体を用いて試験をすることができる高温試験装置を提供する。【構成】 高温試験装置は、試験体(2)を内部に含むための内部雰囲気容器(51)と、試験体(2)を高温にするために内部雰囲気容器(51)の外側に配される発熱体(6)と、内部雰囲気容器(51)と発熱体(6)とを内部に含むための外部雰囲気容器(52)とを具備する。

Claim (excerpt)：

試験体を内部に含むための第1の容器と、前記試験体を高温にするために前記第1の容器の外側に配される加熱手段と、前記第1の容器と前記加熱手段とを内部に含むための第2の容器とをそれぞれ具備する高温試験装置。

IPC (2)：

G01N 3/18 ,  G01N 17/00

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 特開昭62-015435
  
• 特開昭62-015435