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J-GLOBAL ID:200903033309244509

分光光度計

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 西岡 義明
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1995103523
Publication number (International publication number):1996297088
Application date: Apr. 27, 1995
Publication date: Nov. 12, 1996
Summary:
【要約】【目的】 フォトダイオードアレイを用いた分光光度計において、紫外から可視にかけて瞬時測定でも、SN比の高い測定でも測定できる分光光度計を提供する。【構成】 2つの光源1、2を用い、試料7による透過あるいは反射を受けた測定光の分光測定を行う分光光度計において、分光測定の検出器にはフォトダイオードアレイ検出器9を用いるとともに、光源1、2と被測定試料7との間の光路上に、ミラー15、ハーフミラー16、開口部17のいずれかが選択的に介在するように切り換えることができる切換ディスク10を備え、いずれか一方の光源からの光および双方の光源からの合成光を試料に入射するようにした。
Claim (excerpt):
波長範囲の異なる2つの光源を用い、これらの光源の一方のみからあるいは双方の光を同時に被測定試料に入射させる光学系と、被測定試料からの透過光または反射光が導かれる分光器と、分光器により分光された光の分光測定を行うフォトダイオードアレイ検出器とを備えた分光光度計において、光源と被測定試料との間の光路上に、ミラー、ハーフミラー、開口部のいずれかが選択的に介在するように切り換える切換ディスクを備え、いずれか一方の光源からの光および双方の光源からの合成光を試料に入射するようにしたことを特徴とする分光光度計。
IPC (4):
G01N 21/27 ,  G01J 3/02 ,  G01J 3/42 ,  G01N 21/01
FI (4):
G01N 21/27 Z ,  G01J 3/02 Z ,  G01J 3/42 Z ,  G01N 21/01 D
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (6)
  • 特開平3-215718
  • 特開昭59-135332
  • 特開平4-086534
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