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J-GLOBAL ID：200903033319181629

光検出プローブの検出及び解析

Inventor： オリュースキー、ピエール ,  フェデルスピール、ローレン
Applicant, Patent owner： アイイーイー インターナショナル エレクトロニクス アンド エンジニアリング エス.エイ.
Agent (2)： 浜本 忠 ,  佐藤 嘉明
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2007523083
Publication number (International publication number)：2008508508
Application date： Jul. 27, 2005
Publication date： Mar. 21, 2008
Summary：

本発明は信号強度と信号変調移相に関する情報測定による光センサーの検出に関する。提供された方法はCMOS及び/又はCCDイメージャーと異なった波長の照明を使用する。この装置は移相の非接触測定を実現してガス濃度を追う。

Claim (excerpt)：

光検出プローブの尋問装置であって、前記光検出プローブから出た光学的波を検出する検出ユニットを備えている装置において、前記検出ユニットは少なくとも1つのCMOS及び/又はCCD像形成装置を備えていることを特徴とする光検出プローブの尋問装置。

IPC (3)：

G01N 21/61 ,  G01N 21/27 ,  G01K 11/12

FI (3)：

G01N21/61 ,  G01N21/27 A ,  G01K11/12 B

F-Term (18)：

2F056VF11 ,  2F056VF20 ,  2G059AA01 ,  2G059BB02 ,  2G059CC04 ,  2G059CC07 ,  2G059CC09 ,  2G059EE01 ,  2G059FF01 ,  2G059FF10 ,  2G059GG02 ,  2G059GG03 ,  2G059HH02 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ02 ,  2G059JJ23 ,  2G059KK04 ,  2G059PP10

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 光音響信号検出方法及び装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-030109   Applicant：株式会社日立製作所
• 時間ゲート光波断層画像測定方法及び装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2004-060248   Applicant：株式会社クリニカル・サプライ, 佐藤学
• 2次元光ヘテロダイン検出法を用いた光画像計測装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2000-153919   Applicant：科学技術振興事業団