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J-GLOBAL ID:200903033350060180

光断層画像化装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 加藤 卓
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2005144824
Publication number (International publication number):2006322767
Application date: May. 18, 2005
Publication date: Nov. 30, 2006
Summary:
【課題】簡単な構成で、観察対象物体の断層像を高解像力で観察できるとともに、より高い解像力とコントラストの画像を得ることが可能な光断層画像化装置を提供する。【解決手段】光源1、2からの部分的にコヒーレントな光ビームが、ビームスプリッター10により観察対象物体24へ向かう探索光と、固定反射面12へ向かう参照光とに分割される。探索光としての光ビームは光変調手段16により周波数シフトされ、この周波数シフトした光ビームは、光軸方向とそれと直交する方向に走査され、対象物体が2次元的に走査される。対象物体からの反射光は、参照光と合成され干渉光が光路9dに発生する。光ビームの光軸方向への移動と光軸に直交する方向の走査から得られる干渉光は、検出器27、28から時系列的な干渉信号として取り出され、対象物体の反射強度情報が取得される。このような構成では、機械的な移動部分が探索光路にあるので、機械走査に伴う光干渉特性の変化が起こり難く光学調整も容易となる。【選択図】図1
Claim (excerpt):
光源からの光ビームを走査して観察対象物体の所定部位に照射し、該対象物体からの反射光を光学的な干渉現象を利用して検出処理することにより対象物体の断層画像情報を取得する光断層画像化装置において、 低干渉性光ビームを発生する光源と、 前記光源からの光ビームを対象物体へ向かう探索光と、固定反射面へ向かう参照光とに分割する光分割部材と、 前記探索光としての光ビームを周波数シフトさせるための光変調手段と、 前記周波数シフトした光ビームを光軸方向に移動するための移動手段と、 前記周波数シフトした光ビームを光軸と直交する方向に走査するための走査手段と、 前記走査手段、移動手段、光変調手段、光分割部材を介して導かれる対象物体からの反射光と、前記固定反射面で反射し光分割部材を介して導かれる参照光との間で合成される干渉光を受光するための検出手段と、 光ビームの光軸方向への移動と光軸に直交する方向の走査に応じて、前記検出手段から得られる時系列的な干渉信号を処理して、対象物体内部の反射強度情報を取得する処理手段と、 を備えたことを特徴とする光断層画像化装置。
IPC (2):
G01N 21/17 ,  A61B 10/00
FI (2):
G01N21/17 620 ,  A61B10/00 E
F-Term (15):
2G059AA06 ,  2G059BB12 ,  2G059EE02 ,  2G059EE11 ,  2G059FF02 ,  2G059GG02 ,  2G059GG09 ,  2G059HH01 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ13 ,  2G059JJ15 ,  2G059JJ22 ,  2G059KK03 ,  2G059LL01
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (6)
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Cited by examiner (6)
  • 散乱光の三次元分布を記録する方法及び装置
    Gazette classification:公表公報   Application number:特願2000-549904   Applicant:レーザー・ディアグノスティック・テクノロジーズ・インコーポレイテッド
  • 光学的検査方法及び光学的検査装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平9-061763   Applicant:株式会社ニコン
  • 可変奥行き解像力を有する光学マッピング装置
    Gazette classification:公表公報   Application number:特願2001-543977   Applicant:オーティーアイオフサルミックテクノロジーズインク
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