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J-GLOBAL ID：200903033381759238
低照度校正装置
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
森本 義弘
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991300931
Publication number (International publication number)：1993142041
Application date： Nov. 18, 1991
Publication date： Jun. 08, 1993
Summary：
【要約】【目的】照度計校正装置において、発光体と照度計との距離や標準光源のワット数を変えることなく、照度計に入射する照度を変化させることにより、照度計校正装置の設定のミスをなくし、正確な校正を容易に実現させる。【構成】標準光源1と、入射照度あたりの出力が値付けされ、前記標準光源の光を受ける標準受光器3と、標準光源1と標準受光器3との間に位置する透過拡散板4と、透過拡散板4に対して開口部5aの面積を変化できる可変マスク5と、標準受光器3と同じ位置に被校正照度計2を置き換える受光器置き換え手段6とを設け、可変マスク5の開口径を連続的に変化させることにより、任意の設定照度値を実現する。
Claim (excerpt)：
標準光源と、入射照度あたりの出力が値付けされ、前記標準光源の光を受ける標準受光器と、前記標準光源と前記標準受光器との間に位置する透過拡散板と、前記透過拡散板と前記標準受光器との間で、前記透過拡散板の近傍に置かれ、開口部の面積を変化できる可変マスクと、前記標準受光器と同じ位置に被校正照度計を置き換える受光器置き換え手段とを備えたことを特徴とする低照度校正装置。
IPC (2)：
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