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J-GLOBAL ID：200903033417571010

エレクトロスプレーを使用する高電界非対称イオン移動度分光分析方法および装置

Inventor： ミラー・ラナン・エー ,  ナザロブ・アーキンジョン・ジー ,  アイスマン・ゲリー・エー ,  クリロフ・イブゲニー
Applicant, Patent owner： ザ・チャールズ・スターク・ドレイパー・ラボラトリー・インコーポレイテッド
Agent (3)： 杉本 修司 ,  野田 雅士 ,  堤 健郎
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2002581074
Publication number (International publication number)：2004529467
Application date： Apr. 17, 2002
Publication date： Sep. 24, 2004
Summary：

エレクトロスプレーを使用し、高電界非対称イオン移動度分光分析により化合物を分析する方法および装置。【選択図】図3A

Claim (excerpt)：

液体試料からイオンを送り出すためのヘッドを含む、試料調製および導入セクションと、 イオン・フィルタ・セクションと、 出力部分と、 電子回路部分とを備え、 前記イオン・フィルタ・セクションが、流路を形成する絶縁表面と、前記流路を挟んで対向するイオン・フィルタ電極とをフィルタとして有し、前記液体試料から送り出されたイオンが前記流路に沿って前記イオン・フィルタ電極間を流れ、 前記電子回路部分が、前記イオン・フィルタ電極に制御信号を印加するように構成され、前記イオン・フィルタ電極に非対称周期信号を印加することにより、交番する高電界および低電界状態を生成してその交番する電界状態に応じて前記流路内のイオンの流れを濾過し、 前記フィルタの電界が補償されることにより、所望のイオン種が前記フィルタを通過して前記流路に沿って前記出力部分まで流れる電界非対称イオン移動度分光分析装置。

IPC (5)：

H01J49/40 ,  H01J49/04 ,  H01J49/06 ,  H01J49/10 ,  H01J49/26

FI (5)：

H01J49/40 ,  H01J49/04 ,  H01J49/06 ,  H01J49/10 ,  H01J49/26

F-Term (15)：

5C038EE01 ,  5C038EE02 ,  5C038EF01 ,  5C038EF04 ,  5C038EF26 ,  5C038FF10 ,  5C038FF13 ,  5C038GG08 ,  5C038GH08 ,  5C038GH11 ,  5C038GH13 ,  5C038GH15 ,  5C038HH02 ,  5C038HH05 ,  5C038HH16

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 特開昭54-139592
  
• 質量分析装置用のイオン源およびイオン源の洗浄方法
  Gazette classification：公表公報   Application number：特願平11-511844   Applicant：マスラボリミテッド