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J-GLOBAL ID:200903033444930986

物質を分析するための方法と構成

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 小倉 正明
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2003524003
Publication number (International publication number):2005527782
Application date: May. 17, 2002
Publication date: Sep. 15, 2005
Summary:
本発明はキャリア流体中において、外層が設けられた少なくとも1つの磁性粒子の磁気応答変化を検出するための方法に関し、その方法が前記外層に関して前記磁性粒子の特徴的な回転時間の測定方法の使用を含み、その測定方法が外部交番磁場の影響下での前記キャリア流体中のブラウン緩和の測定を含む。この方法は、粒子の有効体積または粒子のキャリア流体との相互作用を修正すると、粒子の流体力学的体積が変化し、これは磁化率の異位相成分がその最大値を示す周波数(fmax)の変化をもたらすことを示唆する。
Claim (excerpt):
キャリア流体中において、外層が設けられた少なくとも1つの磁性粒子の磁気応答変化を検出するための方法であって、前記方法が前記外層に関して前記磁性粒子の固有回転時間の測定方法の使用を含み、該測定方法が外部交番磁場の影響下での前記キャリア流体中のブラウン緩和の測定を含んでおり、 前記方法はさらに、磁化率の異位相成分がその最大値を示す周波数(fmax)の変化をもたらす前記粒子の流体力学的体積を変化する、前記粒子の有効体積または前記粒子の前記キャリア流体との相互作用の修正を含むことを特徴とする方法。
IPC (3):
G01N27/76 ,  G01N33/543 ,  G01N33/566
FI (3):
G01N27/76 ,  G01N33/543 541A ,  G01N33/566
F-Term (21):
2G053AA04 ,  2G053AB01 ,  2G053AB06 ,  2G053BA04 ,  2G053BA05 ,  2G053BA08 ,  2G053BB02 ,  2G053BB11 ,  2G053BC02 ,  2G053BC07 ,  2G053BC14 ,  2G053CA03 ,  2G053CA19 ,  2G053CB05 ,  2G053CB12 ,  2G053CB25 ,  2G053DA02 ,  2G053DA07 ,  2G053DA09 ,  2G053DA10 ,  2G053DB02
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (2)

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