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J-GLOBAL ID：200903033460588333
異物検査装置
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (2)：
長門 侃二
, 山中 純一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004143667
Publication number (International publication number)：2005326220
Application date： May. 13, 2004
Publication date： Nov. 24, 2005
Summary：
【課題】 簡易な構成で安価に実現することができ、しかもメンテナンスが容易な異物検査装置を提供する。【解決手段】 特定波長を含む近赤外線光を前記コンベアの幅方向全域に亘って一様に照射する赤外線光源(直管型赤外線ランプ)と、前記コンベア上の前記近赤外線光の照射領域を該コンベアの幅方向に光学的に走査する偏向機構(ポリゴンミラー)を備えて前記近赤外線光の照射領域を局部的に視野する光学系(対物レンズ系)と、この光学系を介して前記コンベア上に載置された原料および/または該原料中に混入している異物による反射光の特定波長の強度を検出する光検出素子とを備え、検査対象物からの反射光を光検出素子に導く為の光学系と、検査対象物に光を照射する照射系とを分離する。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
コンベア上に載置されて搬送される原料中に混入している異物を光学的に検出する異物検査装置であって、
特定波長を含む近赤外線光を前記コンベアの幅方向全域に亘って一様に照射する赤外線光源と、
前記コンベア上の前記近赤外線光の照射領域を該コンベアの幅方向に光学的に走査する偏向機構を備えて前記近赤外線光の照射領域を局部的に視野する光学系と、
この光学系を介して前記コンベア上に載置された原料および/または該原料中に混入している異物による反射光の特定波長の強度を検出する光検出素子と
を具備したことを特徴とする異物検査装置。
IPC (1)：
FI (1)：
F-Term (9)：
2G051AB02
, 2G051BA06
, 2G051BB07
, 2G051CB01
, 2G051CC12
, 2G051CC13
, 2G051CD04
, 2G051DA06
, 2G051DA17
