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J-GLOBAL ID：200903033479257990

断層撮像パラメータの自動指示

Inventor： ファン マイスウィンケル,アリアーネ エム セー ,  ファン デン ブリンク,ヨハン エス
Applicant, Patent owner： コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ
Agent (3)： 伊東 忠彦 ,  大貫 進介 ,  伊東 忠重
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2002588846
Publication number (International publication number)：2004524942
Application date： May. 08, 2002
Publication date： Aug. 19, 2004
Summary：

本発明は、断層撮影法の画像平面の配向及び位置を決定する走査パラメータの指示方法に関係する。本発明は、異なる時間で患者の再走査工程を容易にする。これは、現在の参照走査画像(1)を対応する過去の参照走査の画像データ(2)と合致(3)することによって、過去の検査における患者の配向及び位置に関して該患者の現在の配向及び位置をコンピュータ処理することによって達成される。現在の検査の走査パラメータは、現在の検査での患者の相対的なポジションと一致して過去の検査の走査パラメータを調節することによって計算される。

Claim (excerpt)：

断層撮影画像平面の配向及び位置を決定する走査パラメータの指示方法であって、対象物の現在の参照走査が実行され、前記参照走査の画像データが分析され、それによってスキャナで検査される前記対象物の現在の前記配向及び位置を確定する幾何学的データを抽出し、さらに、一つ以上の現在の検査走査における前記走査パラメータは、過去の検査における前記同一対象物の対応する幾何学的なデータに対して前記検査される対象物の前記現在の幾何学的なデータを関連付けることによってコンピュータ処理されて、前記方法では、過去の参照走査の画像データと前記現在の参照走査の画像データを合致させることによって、前記過去の検査における前記対象物の配向及び位置に関する前記現在の配向及び位置はコンピュータ処理され、前記現在の検査の走査パラメータは、前記現在の検査での前記対象物の相対的な配向及び位置と一致して前記過去の検査の走査パラメータを調節することによって計算されることを特徴とする方法。

IPC (3)：

A61B6/03 ,  A61B5/055 ,  G01R33/32

FI (3)：

A61B6/03 370E ,  A61B5/05 380 ,  G01N24/02 520Y

F-Term (12)：

4C093CA16 ,  4C093FF34 ,  4C093FF37 ,  4C093FH07 ,  4C096AB37 ,  4C096AB38 ,  4C096AD07 ,  4C096AD14 ,  4C096BB12 ,  4C096BB21 ,  4C096DC22 ,  4C096DC33

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 特開平2-001244
  
• ポジトロンCT装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-286798   Applicant：株式会社島津製作所
• 特開平2-001244
  
• 特開平2-001244