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J-GLOBAL ID:200903033479833231
核磁気共鳴を用いた検査装置および検査方法
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
Agent (1):
高田 幸彦
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1993332767
Publication number (International publication number):1995184872
Application date: Dec. 27, 1993
Publication date: Jul. 25, 1995
Summary:
【要約】【目的】 MRAにおける検査の進行状況に応じて最終結果であるアンギオ像を逐次表示・モニタできるMRI装置および検査方法を提供することにある。【構成】 核磁気共鳴を用いた改良された検査装置および検査方法である。ここでは、検査対象のリフェ-ズ象と上記対象のディフェ-ズ象を撮像し、像再構成を行った後、上記両者の像の差像を求めることにより、上記検査対象の静止部像を除去する度毎に、アンギオ像を得るために例えば最大強度投影処理を行ない、得られたアンギオ像を表示する一連の処理を行っている。
Claim (excerpt):
静磁場,傾斜磁場及び高周波磁場のそれぞれの磁場を発生させる磁場発生手段、検査対象からの核磁気共鳴信号を検出する信号検出手段、該信号検出手段からの検出信号に所定の演算を施し、その結果を出力する電子計算機、および該電子計算機内の記憶装置に予め記憶されている所定の手順にしたがって上記各手段の動作タイミングを制御する制御装置を有する核磁気共鳴を用いた検査装置において、上記処理手順として、検査対象の静止部像を除去し、アンギオ像を得るための所定の処理を行ない、得られたアンギオ像を表示する処理の手順が記憶されていることを特徴とする核磁気共鳴を用いた検査装置。
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)
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サブトラクション・アンギオグラフィ
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-021551
Applicant:横河メディカルシステム株式会社
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特開平4-166132
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磁気共鳴イメージング法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-273981
Applicant:株式会社日立製作所, 日立計測エンジニアリング株式会社
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