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J-GLOBAL ID：200903033540730734

自動分析装置

Inventor： 松本 修
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 小川 勝男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996191773
Publication number (International publication number)：1998038889
Application date： Jul. 22, 1996
Publication date： Feb. 13, 1998
Summary：

【要約】【課題】制御装置に複数の分析機が接続されている自動分析装置において、複数の分析機の画面を一括管理して1画面上に表示し、複数のウィンドウ表示による画面の煩雑化を防ぎ、容易に定型業務を行うことが可能な自動分析装置を提供する。【解決手段】自動分析装置は、制御装置1に複数の分析機10a,10bを通信手段2,3によって接続し、制御装置1に分析機10a,10bの操作を行う為の表示装置20aを設ける。また、表示装置20aは仮想端末として分析機10a,10bの操作画面を表示することができ、分析機10a,10bに固有の画面については1ウィンドウ上に各分析機の操作画面を配列表示する。

Claim (excerpt)：

複数の分析機と上記分析機と通信回線によって接続された制御装置と上記制御装置に接続された表示装置を有する自動分析装置において、複数の上記分析機から上記表示装置に表示する表示コマンドを送り、上記表示装置の1ウィンド上に上記表示コマンドに対応する表示項目を配列表示することを特徴とする自動分析装置。