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J-GLOBAL ID：200903033562785206

トンネル用総合測量システム

Inventor：
宮原 宏史

About 宮原 宏史


Applicant, Patent owner：
マック株式会社

About マック株式会社


Agent (1)： 吉田 芳春
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999373298
Publication number (International publication number)：2001182484
Application date： Dec. 28, 1999
Publication date： Jul. 06, 2001
Summary：
【要約】【課題】 トンネル坑内の各種の測量に必要とされる装置を共通化し、装置コストの削減と、作業の効率化を図ることを課題とする。【解決手段】 測距用の特定の反射物を必要とする第1測距用ビーム装置12aと、測距用の特定の反射物を必要とする第2測距用ビーム装置12bと、マーキング用のレーザ装置11とが配置され、これらを自在に旋回し測定データを得るトータルステーション10と、このトータルステーション10を制御し、測定データの処理及び制御への利用を行う演算制御部20とから構成されることにより、上記課題を解決する。
Claim (excerpt)：
測距用の特定の反射物を必要としない第1測距用ビーム装置と、測距用の特定の反射物を必要とする第2測距用ビーム装置と、対象面に定点パターンを投影するマーキング用のレーザ装置と、上記レーザ装置、第1測距用ビーム装置、及び第2測距用ビーム装置とが配置されてこれらを水平垂直方向に自在に旋回し測定データを得るトータルステーションと、このトータルステーションを制御し、上記測定データのデータ処理と制御への利用を行う演算制御部とから構成されることを特徴とするトンネル用総合測量システム。
IPC (4)：
E21D 9/10 ,  G01C 7/06 ,  G01C 15/00 ,  G01C 15/02
FI (4)：
E21D 9/10 F ,  G01C 7/06 ,  G01C 15/00 A ,  G01C 15/02
F-Term (4)：
2D054AC20 ,  2D054GA25 ,  2D054GA65 ,  2D054GA82
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (2)

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