Pat
J-GLOBAL ID：200903033597334754
質量分析計
Inventor：
,
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
小川 勝男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992012816
Publication number (International publication number)：1993203637
Application date： Jan. 28, 1992
Publication date： Aug. 10, 1993
Summary：
【要約】【目的】液体クロマトグラフと静電噴霧イオン源とを直結して、高い流量を導入しても安定してイオンを観測できる静電噴霧イオン源を備えた液体クロマトグラフ・質量分析計を提供する。【構成】試料溶液を静電噴霧するための噴霧細管11の中心軸と、生成したイオンを真空部に取り込むためのイオン導入細孔15aの中心軸とを傾けて配置し、噴霧により生成した液滴のうち特に粒径の小さなものだけを真空部に取り込む。【効果】静電噴霧イオン源に毎分数百マイクロリットルの試料溶液を導入でき、液体クロマトグラフと質量分析計とを直結して使用することができる。
Claim (excerpt)：
液体クロマトグラフから送られてくる試料溶液を噴霧細管の一端に導入しこの噴霧細管の他端から静電噴霧させイオンを生成するための静電噴霧イオン源、この生成したイオンを真空部に導入するためのイオン導入細孔、及びこの導入されたイオンを質量分析するための質量分析部を備えた質量分析計において、前記噴霧細管の先端が前記イオン導入細孔から所定の距離をおいて配置され、前記噴霧細管の先端が前記イオン導入細孔の中心軸から所定の距離の範囲内にあり、かつ前記噴霧細管の中心軸と前記噴霧細管の先端を通る前記イオン導入細孔の中心軸と平行な直線とが所定の角度をなすことを特徴とする質量分析計。
IPC (3)：
G01N 30/72
, G01N 27/62
, H01J 49/26
